Hi!
Nachdem die Festplatte in meinem alten Laptop den Geist aufgegeben hatte, hab ich mir vor zwei Monaten eine SAMSUNG HM160HC (160 GB) bestellt und verbaut. Als einziges System ist OpenBSD 4.9 installiert. Seit ein paar Tagen friert ab und zu einfach der komplette Desktop ein, vor allem wenn ich viele Sachen auf die Festplatte schreibe. Beim Systemstart sind dann beliebige Dateien korrupt.
Hab die Platte gerade mal mit smartctl durchgetestet, und ich denke es sieht nicht gut aus. Allerdings bin ich auch beunruhigt, ob vielleicht an meiner anderen Hardware (ATA-Kabel zur Festplatte?) was kaputt sein könnte, was dann die Festplatten schrottet. Ich glaub zwar nicht dass das möglich wäre, aber nach so kurzer Zeit ist mir noch keine Festplatte kaputt gegangen
Oder kann der Schaden theoretisch auch von zu langer Lagerung kommen? Es gibt ja kaum noch ATA-Platten, und neue werden wohl nicht mehr hergestellt.
Naja, hier mal die Ausgabe von smartctl -a /dev/wd0c:
Raw_Read_Error_Rate liegt bei 30, bei Reallocated_Sector_Ct steht FAILING_NOW und der RAW_VALUE steht bei 996. Bedeutet das, dass keine Reservesektoren mehr angefordert werden können? Hab mal gelesen, dass ca. 1000 Sektoren als Reserve auf der Festplatte liegen? Der Load_Cycle_Count ist für die seltene Benutzung mit 48737 auch schon recht hoch, wahrscheinlich müsste man da wie bei WD-Platten auch das interne Stromsparmanagement abschalten.
Und hier die Ausgabe eines langen Tests (smartctl -t long /dev/wd0c):
Wie seht ihr die Lage? Sollte ich die Platte umtauschen oder ist da noch was zu retten?
Viele Grüße,
drm
Nachdem die Festplatte in meinem alten Laptop den Geist aufgegeben hatte, hab ich mir vor zwei Monaten eine SAMSUNG HM160HC (160 GB) bestellt und verbaut. Als einziges System ist OpenBSD 4.9 installiert. Seit ein paar Tagen friert ab und zu einfach der komplette Desktop ein, vor allem wenn ich viele Sachen auf die Festplatte schreibe. Beim Systemstart sind dann beliebige Dateien korrupt.
Hab die Platte gerade mal mit smartctl durchgetestet, und ich denke es sieht nicht gut aus. Allerdings bin ich auch beunruhigt, ob vielleicht an meiner anderen Hardware (ATA-Kabel zur Festplatte?) was kaputt sein könnte, was dann die Festplatten schrottet. Ich glaub zwar nicht dass das möglich wäre, aber nach so kurzer Zeit ist mir noch keine Festplatte kaputt gegangen

Naja, hier mal die Ausgabe von smartctl -a /dev/wd0c:
Code:
smartctl 5.40 2010-10-16 r3189 [i386-unknown-openbsd4.9] (local build)
Copyright (C) 2002-10 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: SAMSUNG HM160HC
Serial Number: S12TJDQB317494
Firmware Version: LQ100-10
User Capacity: 160,041,885,696 bytes
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: 7
ATA Standard is: ATA/ATAPI-7 T13 1532D revision 0
Local Time is: Sat Jun 11 14:15:38 2011 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
See vendor-specific Attribute list for marginal Attributes.
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 128) The previous self-test completed having
a test element that failed and the
device is suspected of having handling
damage.
Total time to complete Offline
data collection: ( 55) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 55) minutes.
SCT capabilities: (0x003f) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x000f 100 100 051 Pre-fail Always - 30
3 Spin_Up_Time 0x0007 252 252 025 Pre-fail Always - 2312
4 Start_Stop_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 117
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 001 001 010 Pre-fail Always FAILING_NOW 996
7 Seek_Error_Rate 0x000e 252 252 051 Old_age Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0024 252 252 015 Old_age Offline - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 3
10 Spin_Retry_Count 0x0032 252 252 051 Old_age Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 66
191 G-Sense_Error_Rate 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 77
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 16
194 Temperature_Celsius 0x0022 121 121 000 Old_age Always - 39 (Min/Max 18/46)
195 Hardware_ECC_Recovered 0x001a 100 100 000 Old_age Always - 39
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 4
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0036 200 200 000 Old_age Always - 1
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x000a 100 100 000 Old_age Always - 941
201 Soft_Read_Error_Rate 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
223 Load_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 90
225 Load_Cycle_Count 0x0032 096 096 000 Old_age Always - 48737
SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 5
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 5 occurred at disk power-on lifetime: 0 hours (0 days + 0 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
04 51 20 c0 6f 13 e0 Error: ABRT 32 sectors at LBA = 0x00136fc0 = 1273792
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
c8 00 20 c0 6f 13 e0 00 00:02:34.562 READ DMA
c8 00 20 c0 6c 13 e0 00 00:02:31.250 READ DMA
c8 00 20 e0 68 13 e0 00 00:02:27.750 READ DMA
c8 00 20 e0 61 13 e0 00 00:02:26.000 READ DMA
c8 00 20 a0 5d 13 e0 00 00:02:22.375 READ DMA
Error 4 occurred at disk power-on lifetime: 4 hours (0 days + 4 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
84 51 80 00 d8 2a e5 Error: ICRC, ABRT 128 sectors at LBA = 0x052ad800 = 86693888
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
c8 00 80 00 d8 2a e5 00 04:06:37.187 READ DMA
ca 00 0c b0 1c 93 e2 00 04:06:35.875 WRITE DMA
ca 00 20 20 ca 43 e1 00 04:06:35.875 WRITE DMA
ca 00 20 c0 83 04 e1 00 04:06:35.875 WRITE DMA
ca 00 20 80 39 d8 e0 00 04:06:35.875 WRITE DMA
Error 3 occurred at disk power-on lifetime: 0 hours (0 days + 0 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
04 51 20 60 6a 0d e5 Error: ABRT 32 sectors at LBA = 0x050d6a60 = 84765280
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
c8 00 20 60 6a 0d e5 00 00:08:38.937 READ DMA
ca 00 20 a0 32 0d e5 00 00:08:36.812 WRITE DMA
ca 00 20 a0 32 0d e5 00 00:08:36.812 WRITE DMA
ca 00 20 e0 69 0d e5 00 00:08:36.812 WRITE DMA
ca 00 20 60 75 0d e5 00 00:08:36.812 WRITE DMA
Error 2 occurred at disk power-on lifetime: 2 hours (0 days + 2 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
04 51 80 60 19 0b e2 Error: ABRT 128 sectors at LBA = 0x020b1960 = 34281824
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
c8 00 80 60 19 0b e2 00 02:18:45.437 READ DMA
c8 00 20 40 19 0b e2 00 02:18:40.437 READ DMA
c8 00 40 00 19 0b e2 00 02:18:40.312 READ DMA
ca 00 20 80 9f c3 e1 00 02:18:40.125 WRITE DMA
ca 00 20 60 9f c3 e1 00 02:18:40.125 WRITE DMA
Error 1 occurred at disk power-on lifetime: 1 hours (0 days + 1 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
04 51 20 e0 aa d8 e0 Error: ABRT 32 sectors at LBA = 0x00d8aae0 = 14199520
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
c8 00 20 e0 aa d8 e0 00 01:21:34.062 READ DMA
ca 00 20 60 5a f0 e1 00 01:21:33.625 WRITE DMA
c8 00 20 a0 4f 19 e0 00 01:21:33.625 READ DMA
ca 00 20 40 5a f0 e1 00 01:21:33.562 WRITE DMA
c8 00 20 e0 a8 0c e0 00 01:21:33.562 READ DMA
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed: handling damage?? 00% 2 0
# 2 Short offline Completed: handling damage?? 00% 1 0
Note: selective self-test log revision number (0) not 1 implies that no selective self-test has ever been run
SMART Selective self-test log data structure revision number 0
Note: revision number not 1 implies that no selective self-test has ever been run
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Completed_handling_damage?? [00% left] (0-65535)
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Raw_Read_Error_Rate liegt bei 30, bei Reallocated_Sector_Ct steht FAILING_NOW und der RAW_VALUE steht bei 996. Bedeutet das, dass keine Reservesektoren mehr angefordert werden können? Hab mal gelesen, dass ca. 1000 Sektoren als Reserve auf der Festplatte liegen? Der Load_Cycle_Count ist für die seltene Benutzung mit 48737 auch schon recht hoch, wahrscheinlich müsste man da wie bei WD-Platten auch das interne Stromsparmanagement abschalten.
Und hier die Ausgabe eines langen Tests (smartctl -t long /dev/wd0c):
Code:
# smartctl -l selftest /dev/wd0c
smartctl 5.40 2010-10-16 r3189 [i386-unknown-openbsd4.9] (local build)
Copyright (C) 2002-10 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed: handling damage?? 00% 2 0
# 2 Short offline Completed: handling damage?? 00% 1 0
Wie seht ihr die Lage? Sollte ich die Platte umtauschen oder ist da noch was zu retten?
Viele Grüße,
drm